New Direction in Transmission Electron Microscopy and Nano-characterization of Materials

New Direction in Transmission Electron Microscopy and Nano-characterization of Materials

木下智見 編
定価 11,000円(税率10%時の消費税相当額を含む)
 1997年に九州大学で開催された『透過電子顕微鏡法の新しい動向と材料のナノ構造評価』に関するアジア学術セミナーでの講義と参加者の発表論文を収録。  
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Extensions of Iterative Proportional Fitting Procedure and I-projection Modeling

Extensions of Iterative Proportional Fitting Procedure and I-projection Modeling

斉藤参郎
〔品 切〕(参考:本体価格 5,400円)
本書はこれまで様々な分野で異なった呼称で独立に行われてきたIPFP(反復比率調整)法に関する理論及び応用を統一的に議論した初めての成書である。
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学術図書刊行助成

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